Դիֆուզիոն խցիկ
Դիֆուզիոն խցիկ, լիցքավորված մասնիկների տեսանելի հետքերը դիտելու սարք։ Ստեղծել է ամերիկացի ֆիզիկոս Ա․ Լանգսդորֆը 1936 թվականին։
Դիֆուզիոն խցիկում, ինչպես և Վիլսոնի խցիկում, լիցքավորված մասնիկների հետքերն առաջանում են գերհագեցած գոլորշու կաթիլներով, իսկ խտացման կենտրոններ են դառնում մասնիկի շարժման հետագծով առաջացած իոնները։ Դիֆուզիոն խցիկում գազը գերհագեցման է հասնում խցիկի վերնամասի առավել տաք մակերևույթից սառը հատակն ընթացող գոլորշու անընդհատ հոսքի շնորհիվ։ Ի տարբերություն Վիլսոնի խցիկի, դիֆուզիոն խցիկում գոլորշին միշտ գերհագեցած և անընդհատ զգայուն է իոնացնող մասնիկների նկատմամբ։ Գազով լցված խցիկի հատակը սառեցվում է պինդ ածխաթթվով՝ մինչև —60—70°С ջերմաստիճան։ Գազի ջերմահաղորդականության և գազի ու խցիկի պատերի կոնվեկցիոն ջերմափոխանակման հետևանքով խցիկում ըստ բարձրության ստեղծվում է ջերմաստիճանների մեծ տարբերություն։ Դիֆուզիոն խցիկի վերին մասը լցվում է հագեցման հասնող առաձգականություն ունեցող մեթիլ սպիրտի գոլորշիով (10—20°С ջերմաստիճանի պայմաններում)։ Դիֆուզիայի հետևանքով սպիրտի գոլորշիները խտանում են դիֆուզիոն խցիկի հատակին։ Խցիկի ստորին մասում, որտեղ ջերմաստիճանն այստեղ ավելի ցածր է, գոյանում է սպիրտի գերհագեցած գոլորշու 50—70 մմ հաստության շերտ, որտեղ և ձևավորվում են մասնիկների տեսանելի հետքերը։
Կիրառությունները[խմբագրել | խմբագրել կոդը]
Դիֆուզիոն խցիկն օգտագործում են ջրածնի, դեյտերիումի, հելիումի միջուկների և մեծ էներգիայի մասնիկների փոխազդեցության պրոցեսները ուսումնասիրելու համար։ Խցիկը տեղավորելով մագնիսական դաշտում՝ կարելի է մեծ ճշտությամբ որոշել մասնիկի իմպուլսը։
Տես նաև[խմբագրել | խմբագրել կոդը]
Այս հոդվածի կամ նրա բաժնի որոշակի հատվածի սկզբնական կամ ներկայիս տարբերակը վերցված է Քրիեյթիվ Քոմմոնս Նշում–Համանման տարածում 3.0 (Creative Commons BY-SA 3.0) ազատ թույլատրագրով թողարկված Հայկական սովետական հանրագիտարանից (հ․ 3, էջ 421)։ 
|